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TEC稱為半導體致冷器,主要核心作用是通過直流電流控制熱流方向,實現冷端吸熱與熱端放熱。通電后 TEC 模塊的冷熱端產生溫差,實現制冷或制熱功能,廣泛應用于電子設備散熱、醫療設備溫控等場景。

作為一個高精密的通電模塊,從研發、生產到測試,到最后的故障診斷與售后維修,TEC可能會出現不同類型的故障。主要包括:

  1. 焊接缺陷:在生產線質量控制中,需要篩查TEC模塊是否存在例如焊接不良、電極虛焊、焊料開裂、半導體材料裂紋、陶瓷基板斷裂等;
  2. 散熱性能缺陷:在研發與性能測試階段,要對TEC結構設計進行優化,例如電極布局是否合理、散熱路徑是否正常等;
  3. 裝配問題:例如與散熱片 / 冷板接觸不良、導熱硅脂分布不均,導致局部熱阻升高等問題;
  4. 性能可靠性測試:例如高低溫循環功能是否正常,長期工作的熱穩定性是否可靠等。

由此可見,TEC模塊的故障可能性非常高,缺陷類型較多,除了肉眼可見的缺陷類別外,以上的缺陷類別如何在生產過程中精準判斷呢?

作為一個通電模塊,人們通常采用紅外熱像儀對TEC缺陷進行檢測。在自動化產線上,紅外熱像儀可以對每一片TEC通電后的溫度進行測量,可同時監測整個TEC模塊包括電極、陶瓷基板、焊點等的溫度分布,不漏檢隱蔽缺陷,實時生成熱圖像,快速定位缺陷,還可以結合熱像儀測溫算法軟件,對TEC模塊的最高溫、溫差、熱梯度進行評估。

紅外熱像儀應用于TEC缺陷檢測

格物優信紅外熱像儀,可以在TEC生產或檢測過程中,固定在自動化產線上,對TEC進行全區域化溫度場捕捉,自動識別焊接缺陷和超溫點,實現不良品實時剔除。尤其針對較小部件,可以采用微距熱像儀,精準定位微米級焊接缺陷。

格物優信紅外熱像儀用在TEC缺陷診斷上的核心優勢包括:

  1. 幀率高達125Hz,4ms的熱時間常數,性能遠高于常規熱像儀。在通電瞬間可以精準抓取溫度;
  2. 面陣式可視化測溫,熱缺陷直觀定位,可以通過偽彩色熱像圖直接顯示異常區域,更易追溯缺陷位置。

格物優信紅外熱像儀核心優勢:

  1. 非接觸式測溫 + 高分辨率熱成像 + 動態分析算法;
  2. 高幀率+超短熱時間常數,全輻射溫度流熱圖像;
  3. 配套測溫軟件,測溫+成像智能分析,數據自動存儲。
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