在電路板運行過程中，正常工作元件的溫度通常處于穩定范圍內，而潛在缺陷往往伴隨著異常的溫升或溫度梯度。例如，短路會導致電流激增并在局部形成顯著的高溫點；虛焊或斷路則會因接觸電阻增大，在通電時產生異常發熱；老化電容、電阻等元件也可能因性能退化而過熱。通過紅外熱像儀掃描電路板表面，技術人員無需物理接觸即可獲取整個板面的熱分布數據，這種非接觸式的特性尤其適合生產線上的在線檢測，既能避免對精密元件的損傷，又能大幅提升檢測效率。某PCBA制造企業的案例便印證了這一點：利用熱成像技術，工程師發現某芯片引腳區域溫度較周圍高出15℃，經X射線復查確認存在虛焊，修復后溫度分布恢復正常，避免了后續批量產品故障的風險。
在全球半導體產業高速發展的浪潮中，芯片制造的精度與效率已成為決定行業競爭力的核心要素。作為精密工業的巔峰，芯片制造在檢測環節面臨著納米級缺陷捕捉的嚴峻挑戰：傳統檢測手段在速度、精度與實時性上的短板，嚴重制約了高端芯片的良率與量產效率。在此背景下，格物優信微距熱成像儀X 1280系列、X640系列以顛覆性技術突破，憑借毫秒級響應速度，針對芯片進行微米級缺陷檢測的硬核實力，為芯片制造行業注入全新動能。
格物優信微距熱像儀X640F300UM25拍攝2mm*3mm電容
實施熱成像檢測時，需嚴格控制檢測環境以排除干擾。通常需屏蔽外部熱源，確保電路板處于典型工作負載狀態，如通電測試時的啟動、滿載或待機階段。采用分辨率不低于384×288、熱靈敏度優于0.05℃的紅外熱像儀進行數據采集，能夠清晰捕捉細微溫度變化。對于微型元件（如0402封裝電阻），可搭配微距鏡頭增強細節解析度。獲得熱圖像后，通過與基準正常板的熱圖對比，結合專業軟件分析溫度剖面及動態變化，能夠精準識別溫差異常區域。例如在電源模塊測試中，格物優信微距熱像儀曾幫助工程師快速鎖定短路電容的位置，防止了通電過久導致的元件燒毀事故。
格物優信微距熱像儀X640F300UM17拍攝2mm*3mm電容
格物優信微距熱像儀X640F300UM8拍攝2mm*3mm電容
PCB板可見光圖(核心部件2MM*2MM)
1280*1024熱像儀配4.8um
傳統光學檢測技術因受限于光學衍射極限，難以突破微米級缺陷識別屏障，而電子顯微鏡雖具備亞納米級精度，卻因檢測速度緩慢且需破壞性取樣，陷入“精度與速度不可兼得”的困境；與此同時，芯片微小結構的熱分布異常常引發熱失控失效，但傳統紅外熱像儀受制于空間分辨率不足，始終無法精準定位微觀熱缺陷；更凸顯矛盾的是，依賴人工復檢的冗長流程嚴重拖累檢測效率，加之高端檢測設備的天價投入持續擠壓企業利潤空間，形成了“高成本、低效率、高風險”的惡性循環，成為制約行業突破的技術枷鎖。
為什么格物優信熱像儀能實現這一目標？
其設備針對芯片級檢測進行了特殊優化，具備以下關鍵特性：
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高空間分辨率與微距鏡頭
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能夠清晰分辨芯片上微米級的電路結構，看清單個晶體管或連線的發熱情況，避免圖像模糊導致無法定位。
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高熱靈敏度
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能夠檢測到低至0.03°C的溫差，確保即使是非常微弱的漏電或小規模短路產生的熱量也能被及時發現。
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高幀頻與毫秒級響應
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支持高達每秒上百幀的拍攝速度，能夠捕捉到通電瞬間的異常熱脈沖或快速的熱擴散過程，不留檢測死角。
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強大的軟件分析功能
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提供點、線、面實時溫度分析，自動熱點追蹤，以及與良品芯片熱圖進行自動比對（A/B對比）等功能，進一步將人工判讀的時間降至最低。
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微米可測|見微知著，專為微小物體測溫而生
優質的探測器及專業算法如同一雙“火眼金睛”，幫助用戶洞察畫面中的細微差異，捕捉場景中的細小溫差，使得被檢測物體在“熱成像顯微鏡”的視角下纖毫畢現。
配備科研專用支架，實時連續在線監測
針對被測物體的微小特性，特配備科研專用支架，針對實驗對象就行靜距離實時觀測，讓熱成像科學研究操作更順手，助力科研項目如光纖檢測、電子煙發熱絲、芯片材料無損檢測等領域的研究項目順利推進，我們支持個性化定制和SDK二次開發，確保用戶在微觀研究中能夠得心應手、游刃有余。
更受用戶青睞的微距熱像儀，各大知名高校單位的選擇
格物優信微距熱像儀X系列已助力多家高?？蒲袉挝坏臒岢上窨蒲许椖?，如北京某大學材料熱效應研究、深圳某研究院電阻絲監測、浙江某大學激光晶體研究等等，熱像儀成像細膩清晰、測溫精準的特點深受科研用戶的青睞。
拍攝型號X640D150UM8（微距）
拍攝型號X640F615UM8（微距）
拍攝型號X640D150UM8（微距）
高達百萬紅外像素+微距鏡頭，微小物體測溫盡顯極致高清
格物優信科研用熱像儀，針對不同的客戶需求，采用不同分辨率如348*288、640*480、1280*1024等，可加裝不同焦距的顯微鏡頭，如1280*1024微距熱像儀4.8μm鏡頭、640*512微距熱像儀17μm鏡頭、640*512微距熱像儀8μm鏡頭，最高可達到130萬紅外像素點纖毫畢現，即使是小到3微米的物體也能實現高清熱成像測溫。
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格物優信X1280熱像儀配4.8μm微距鏡頭紅外圖
配備IRStudio科研專用軟件，支持曲線分析|逐幀分析|離線分析
IRStudio系統是格物優信針對紅外熱像儀及其衍生產品所開發的專業紅外分析軟件。具有強大的錄制和分析功能，可對紅外數據進行顯示、記錄、特征分析等，以支持關鍵決策，滿足用戶在研發、研究領域中的實際應用需求。
