1、為什么要進行擋板校正？
紅外探測器作為紅外熱像儀的核心器件，由于制造工藝等原因，紅外探測器在成像時存在嚴重的非均勻性，因此需要紅外熱像儀在初次上電或長時間工作后進行非均勻校正，以提高成像質量。目前紅外熱像儀通常采用兩點與單點非均勻校正相結合的方法，在紅外熱像儀裝配完成后通過黑體設備進行兩點非均勻校正，將校正系數保存組件中，以后每次組件正常工作以非均勻校正檔片為基準進行單點非均勻校正。該方法要求每次進行單點非均勻校正時，校正擋板響應值在兩點校正系數線性區內。
紅外測溫效果圖
2、熱像儀散熱對擋板校正有什么影響？
紅外熱像儀經常在密閉的環境中使用，系統散熱效果不佳，紅外熱像儀的功耗幾乎全部轉化為熱量，在系統內堆積，隨著時間的推移系統內部溫度逐漸升高。造成非均勻校正擋板溫度升高，在進行非均勻校正時，擋板切入，由于擋板溫度升高，紅外探測器對擋板的紅外響應，已超出兩點校正線性區間，此時進行非均勻校正，校正效果會變差。表現為校正后紅外成像效果變差，有很強的非均勻性。
